本文標(biāo)題："金相顯微鏡光源通常是鹵素?zé)糇鳛槠鋬x器光源"
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金相顯微鏡的組成和金相學(xué)
金相顯微鏡可擴(kuò)展性主要是把可配圖像分析結(jié)構(gòu)系統(tǒng)有數(shù)碼相機(jī)結(jié)構(gòu)、
攝像頭、圖像分析結(jié)構(gòu)軟件相結(jié)合在一起的儀器。
電腦型金相顯微鏡的組成是由金相顯微鏡、適配鏡 、攝像器、圖像采集
、計(jì)算機(jī)組合而成的。
數(shù)碼相機(jī)型金相顯微鏡則是由金相顯微鏡、適配鏡、數(shù)碼相機(jī)組合而成的
，金相顯微鏡光源為鹵素?zé)糇鳛楣庠础?/div>
金相顯微鏡中的金相學(xué)主要指顯微鏡借助光學(xué)和金相兩個(gè)顯微鏡和體視顯
微鏡等對(duì)物體樣品材料進(jìn)行觀察出它們的顯微組織、低倍組織以及和顯微
斷口組織等。
對(duì)電子器件的密封有兩個(gè)日的。第一是阻止外部氣體和流體進(jìn)人封裝件，第二則
是防止密封在封裝件內(nèi)的氣體或流體漏出。第一種情況的例子有潮氣、鹵化有機(jī)分子
或其他蒸汽從外部大氣進(jìn)入封裝件。對(duì)于許多電子器件，即使很少量的潮氣或鹵化有
機(jī)分子進(jìn)人封裝腔體也可能引起從漏電到腐蝕的許多故障。第二種情況的例子是防
止腐蝕性材料(例如硫酸)漏出電解電容器，從而導(dǎo)致器件故障和腐蝕安裝了器件的電
子線路板。
每一密封的封裝都以某個(gè)確定的速率滲漏。這種滲漏引起內(nèi)部封裝環(huán)境通過擴(kuò)
散過程隨時(shí)間變化，直到內(nèi)部和外部封裝的化學(xué)成分兒乎相同而接近平衡。若封裝的
漏率足夠低.使在器件的預(yù)計(jì)壽命期內(nèi)能維持內(nèi)部環(huán)境不變.則可以認(rèn)為封裝是密封
的。內(nèi)部封裝體積越大，在器件壽命期內(nèi)維持所需的封裝環(huán)境的漏率越大。
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