本文標(biāo)題:"截面測(cè)量顆粒大小分布計(jì)量圖像顯微鏡"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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截面測(cè)量顆粒大小分布計(jì)量圖像顯微鏡
截面測(cè)量計(jì)量顆粒的空間大小分布
對(duì)集合體中的顆粒一般是從試樣薄片和光片中某個(gè)截面上測(cè)量的。由
于截面效應(yīng)所測(cè)得的并不是顆粒空間真正的大小和分布,因此只有在一定
的假設(shè)條件下,才能從截面的測(cè)量值推導(dǎo)出顆粒空間大小的分布。最簡(jiǎn)單
的是把非球狀顆粒假想成同體積的球狀顆粒,按體視學(xué)方法根據(jù)投影尺寸
計(jì)算球狀顆粒在空間尺寸的分布,主要有截面圓法和弦長(zhǎng)法,相比之下前
者精度要高一些。進(jìn)行全自動(dòng)圖像分析時(shí)要求用圖像對(duì)比度好的樣品。需
要采用半自動(dòng)或人工分析時(shí),多采用弦長(zhǎng)法,這樣測(cè)量及其數(shù)據(jù)處理要簡(jiǎn)
單得多。
1.弦長(zhǎng)法
通過(guò)測(cè)量截平面上測(cè)試線段在顆粒上所截得弦長(zhǎng)計(jì)算顆粒在空間尺寸
分布的方法,稱為弦長(zhǎng)法。
2.截面圓法
從測(cè)定顆粒截面圓的直徑分布來(lái)計(jì)算顆粒在空間尺寸分布的方法,稱
為截面圓法。
圖像分析粉料試樣的制備
圖像分析的測(cè)量范圍和儀器的分辨本領(lǐng)有密切關(guān)系,不同儀器的放大
倍數(shù)和分辨本領(lǐng)測(cè)量范圍相差甚大,對(duì)制備試樣的方法和要求亦不一樣。
圖像分析儀的分辨本領(lǐng)隨聯(lián)機(jī)的顯微鏡分辨力而定,光學(xué)儀器的放大倍數(shù)
是由幾何光學(xué)決定的,而電子儀器的分辨本領(lǐng)則取決于衍射理論。現(xiàn)分別
簡(jiǎn)單介紹它們?cè)嚇拥闹苽浞椒ê鸵蟆?/div>
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