本文標題:"上海光學儀器一廠研發設計出全新之測量儀器"
發布者:yiyi ------ 分類: 技術文章 ------
人瀏覽過-----時間:2012-10-29 14:7:8
上海光學儀器一廠研發設計出全新之測量儀器 -- 光學影像測量儀、干涉顯微鏡塊規比測儀及外徑尺寸比測儀。
一二維光學量測設備上,上海光學儀器一廠產品維持我國很高的之市場占有率。
在測長儀方面,設計以花崗巖為基材,可依客戶所需之長度而精心裁制。
在應用方面不僅可量測塊規、環規、塞規、卡規、分厘卡、螺紋規,更可進一步檢測其它廠牌無法達到的檢驗。如內外螺紋之牙距及錐度之檢驗,且量測精度更是首屈一指(提供工件、花崗巖及光學尺之溫度即時補償),教導式軟體更是使操作者一目了然。
在比測儀方面,提供ABBE 250外徑比測儀。采用自動上下式探針進行量測,減少人為誤差。EMP系列之塊規比測儀更是將光學尺之長距離檢測優勢應用于此。在進行塊規比對式量測時,不需一對一同尺寸的檢測,如于100 mm之量測范圍,僅需提供10片以下之標準片,便可進行量測。在整個量測過程中,大大的提高時間效率及降低塊規成本之預算,對整體之效益,提供莫大之幫助。
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上海光學儀器一廠研發設計出全新之測量儀器,金相顯微鏡現貨供應
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