本文標(biāo)題："電子顯微鏡研究微量元素金屬問(wèn)化合物質(zhì)點(diǎn)晶粒邊界"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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電子顯微鏡研究微量元素金屬問(wèn)化合物質(zhì)點(diǎn)晶粒邊界
微量元素具有兩種不同的影響。第一種影響是，許多元素傾向子
形成不溶解的金屬問(wèn)化合物質(zhì)點(diǎn)，沉積在晶粒邊界上，從而穩(wěn)定了成
形產(chǎn)品中的晶粒形狀(詳見(jiàn)下述)，而不使其形成等軸晶粒組織。這
類元素中最為人熟知的是Mn和Cr，它們影響所有四種合金的晶粒形
狀，最近zr也成為其中的重要元素。由于在鋁合金灼應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂
中，晶粒形狀極為重要，因而對(duì)許多使用等軸晶粒組織，作為試驗(yàn)合
金的研究工作，必須慎重對(duì)待。使用這種合金是希望能分別研究各種
合金元素的單獨(dú)影響，但對(duì)化學(xué)成分與顯微組織，更為復(fù)雜的工業(yè)合
金來(lái)說(shuō)，同一元素的表現(xiàn)可能極不相同。因而可以預(yù)期，使用試驗(yàn)合
金所獲得的結(jié)論中至少有一部分，或許有許多，對(duì)具有加工產(chǎn)品晶粒
形狀的復(fù)雜的工業(yè)合金來(lái)說(shuō)i是不適用的。
腐蝕裂紋的萌生與擴(kuò)展可以歸因子在陽(yáng)極區(qū)金屬的連續(xù)溶解，逮
種髂鰓由于應(yīng)力而被加速。甚至在無(wú)負(fù)荷的金屬中，晶問(wèn)腐蝕有時(shí)候幾
乎象腐蝕裂紋擴(kuò)展那樣快。然而，如果沒(méi)有應(yīng)力的作用，晶間腐蝕最
終將停止，而在加負(fù)荷的材料中，晶間裂紋的發(fā)展是連續(xù)的。我們用
專門的儀器測(cè)量了浸泡在沸騰的硝酸溶液里的阿姆科鐵中裂紋萌生和
早期擴(kuò)展階段的應(yīng)力變化。在第一階段，應(yīng)力有輕微的卻是連續(xù)的變
化，雖然金相研究表賜表面腐蝕裂紋業(yè)已萌生和擴(kuò)展。應(yīng)力的間歇性
變化開(kāi)始得很遲，可能是由于幾個(gè)裂紋聯(lián)接起來(lái)了。
腐蝕裂紋由于陽(yáng)極區(qū)的電化學(xué)溶解而萌生的可能性，已通過(guò)對(duì)處
子應(yīng)力下的金屬箔腐蝕的電子顯微鏡研究所證實(shí)。在晶間開(kāi)裂時(shí)，
陽(yáng)極區(qū)包括晶粒粒邊界，而當(dāng)穿晶開(kāi)裂時(shí)，這種陽(yáng)極區(qū)是通過(guò)滑移面上
的位錯(cuò)聚集或陽(yáng)極析出產(chǎn)生的。
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