本文標題:"煤巖各個組分的重量百分比乘上顯微硫含量計量顯微鏡"
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煤巖各個組分的重量百分比乘上顯微硫含量計量顯微鏡
顯微探針分析
煤中硫的顯微探針分析是直接測定煤、焦中有機硫和硫化鐵
的方法。它用掃描電子探針來分析硫和鐵的空間分布.當電子束
橫掃煤時產生了x一射線光子并測定來自硫和鐵的x-身寸線光子的
強度.因為礦物質硫的空間分布是集結的,而有機硫的分布是均
勻的,所以可以測定相應的無機硫和有機硫的含量.集結硫的
x一射線強度與鐵的x一射線強度都來源于硫化鐵,所以比較鐵的
x一射線強度和集結的硫的x一射線強度可以得到硫鐵化合物的原
子比.應當指出的是為了得到定量的結果,x一射線強度必須用標
準物加以標定.標定時,假設與純元素相比較,復雜物質中用顯微
探針得到的元素的X一射線強度近似地正比于此物質中該元素的
質量百分比.
煤巖學與顯微探針相結合的分析方法(CMPA)
把煤巖學和上面討論的顯微探針法結合起來,可以測定煤
的顯微組分中的有機硫和黃鐵礦硫。首先用煤巖方法測定煤中顯
微組分和黃鐵礦的體積百分比,再乘上相應的密度即可得到它
們的重址百分比。然后對各顯微組分和黃鐵礦硫的X射線
強度進行校正,把煤巖方法得到的各個組分的重量百分比乘上顯
微探針法得出的硫含量。由各個組分的已知重量的硫的X射線強
度與標準物的硫X射線強度之比得出各組分中硫的重量百分比.
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