本文標(biāo)題："顯微鏡使用光學(xué)方法能分辨細(xì)片晶或頁理的顯微構(gòu)造"

顯微鏡使用光學(xué)方法能分辨細(xì)片晶或頁理的顯微構(gòu)造

    礦物的顯微構(gòu)造研究，是礦物學(xué)研究和巖石學(xué)研究領(lǐng)域里的一個(gè)重要組成部
分。用光學(xué)方法能分辨的顯微構(gòu)造，諸如平行的破裂面、雙晶、環(huán)帶、出溶、鑲
邊的晶體，以及形變產(chǎn)生的微頁理(Lamellae)構(gòu)造等都能用干涉顯微鏡研究，既
可以用旋轉(zhuǎn)針臺來研究單礦物碎片，也可以在薄片中進(jìn)行研究。

    對出溶的研究類似于用干涉顯微鏡研究環(huán)帶問題。巖石學(xué)工作者都熟悉象條
紋長石和微條紋長右這樣的出溶現(xiàn)象。然而，月球巖石中大多數(shù)的輝石具出溶現(xiàn)
象，且其出溶片晶和泡狀晶(blebs) 的寬度為微觀到亞微觀大小。這樣細(xì)的出溶
片晶可能同別的細(xì)片晶或頁理構(gòu)造( 如雙晶) 相混淆。

    除了細(xì)的亞微觀出溶結(jié)構(gòu)必須用透射電子顯微鏡和X 射線衍射丟研究，微觀
出溶結(jié)構(gòu)的寬度足夠做電子探針分析，因而也就足夠用來作干涉顯微鏡研究。有
些不能用電子探針分析的近亞微觀出溶結(jié)構(gòu)，可用干涉顯微鏡通過條紋位移來揭
示。所以把干涉顯微鏡和電子探針密切配合起來使用是很有必要的。

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