本文標題："光學(xué)顯微鏡的成像裝置圖像CCD-磨粒圖像分析"
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光學(xué)顯微鏡的成像裝置圖像CCD-磨粒圖像分析
圖像預(yù)處理CCD 圖像采集方法是將多維圖像變成一維電信號，再
對其進行處理、存儲、傳輸?shù)燃庸ぃ詈笸ǔＲ俳M成多維圖像信號。
在顯微鏡條件下，磨粒圖像中存在各種各樣的噪聲和畸變對磨粒
識別的準確性產(chǎn)生影響。
通過預(yù)處理去掉這些噪聲和畸變，使得磨粒的特征參數(shù)提取和識
別過程更易于進行
預(yù)處理一般采用卷積運算，即將算子（有時也稱為模板）與數(shù)字
圖像進行卷積運算。例如，平滑算法是將原圖中一個像素的灰度值和
它周圍鄰近8 個像素的灰度值相加，然后將求得的平均值作為新圖像
中該像素的灰度值。卷積是一種用途很廣的算法，可用卷積來完成各
種處理變換，后面將要討論的細化、邊緣檢測等都要用到卷積運算，
其中包括：鄰域平均法、中值濾波、復(fù)合型中值濾波、高階中值
濾波、空間域低通濾波、頻率域低通濾波和多幅圖像平均法。
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