本文標(biāo)題："包覆鐵的碳結(jié)構(gòu)微觀分析倒置型金相顯微鏡"

包覆鐵的碳結(jié)構(gòu)微觀分析倒置型金相顯微鏡

關(guān)于碳納米管在640oC做磁性退火后處理的效應(yīng)，從SEM的結(jié)果顯示處理后的碳納米管變的
較乾淨(jìng)，其可從拉曼ID/IG比值減少得到證明。
此外，從XRD圖譜顯示初成長之碳納米管具有簡單斜方-Fe3C、bcc-Fe及fcc-Diamond的繞射訊號

，
但經(jīng)過退火處理后，會形成沒有bcc-Fe的訊號，因此使得矯頑力下降。
從結(jié)果亦指出碳納米管與磁性退火后的碳納米管，其矯頑力、磁滯曲線偏移量與量測溫度呈線性

反比。
相對的，磁化強(qiáng)度與量測溫度呈非線性反比。而磁滯曲線偏移量反比于測量溫度
，主要是來自交換異向性。本實驗在碳納米結(jié)構(gòu)中包覆的Fe觸媒平均尺寸約66 nm，
此大于Fe顆粒最大矯頑力的臨界尺寸(14 nm)，換言之，
還有很大的空間可以改善制程以減小碳納米管或納米顆粒的尺寸來加強(qiáng)矯頑力。
雖然磁性退火后處理對磁特性并無法改善，但在碳納米管場發(fā)射性質(zhì)上
，電流密度足足大了三個等級。這可能是碳納米管在真空磁性退火后減少非晶質(zhì)碳所致。
從AFM/MFM圖中，顯示包覆鐵的碳納米結(jié)構(gòu)可由MFM顯像，此表示著在納米解析度下具有高可能性

應(yīng)用在磁記錄媒體

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