本文標(biāo)題："高精度微細(xì)加工的測(cè)定與品質(zhì)分析圖像顯微鏡"

高精度微細(xì)加工的測(cè)定與品質(zhì)分析圖像顯微鏡

電解電壓對(duì)電解拋光加工特性之影響

電解電壓主要是參考電解液之陽(yáng)極極化曲線，來(lái)
設(shè)定我們所要的參數(shù)，分別為 1V、2V、3V、5V、7V。

由孔壁表面SEM電子顯微鏡，電解電壓 1V 加工時(shí)間 5 分鐘后，孔壁表面并
無(wú)明顯的加工現(xiàn)象，由多個(gè)放電坑洞所形成的放電痕，也就是所謂的
嶺高部分，僅些微的尖端產(chǎn)生解離而溶除。而使用電解電壓 2V 時(shí)為
鈍態(tài)區(qū)電壓，此時(shí)電解狀態(tài)易形成不動(dòng)鈍態(tài)，即陽(yáng)極解離緩慢甚至停
止，但其加工量恰好約為變質(zhì)層厚度時(shí)開(kāi)始接近鈍態(tài)，此時(shí)主要加工
機(jī)制為腐蝕作用。

電解電壓 3V 時(shí)為過(guò)鈍態(tài)區(qū)之電解電壓，此區(qū)域中陽(yáng)極開(kāi)始解離
出現(xiàn)氧氣，金屬被活化而腐蝕解離，

實(shí)驗(yàn)工件材料為軋延之薄板，因此會(huì)有孔蝕或沿晶腐蝕的現(xiàn)象產(chǎn)生。

除了晶界腐蝕之外，還可發(fā)現(xiàn)孔壁表面有呈現(xiàn)階梯狀的排列，表示整個(gè)晶粒也被腐蝕，
可發(fā)現(xiàn)成排的孔蝕坑。

電解電壓 5V 時(shí)為接近極限電流區(qū)之電壓，一般電解拋光常在此區(qū)域下實(shí)行，
但由于電解時(shí)反應(yīng)激烈，大量的氣泡產(chǎn)生，瞬間移除大量的材料，不容易控制其
加工量，雖然有不錯(cuò)的表面粗糙度，但由于本實(shí)驗(yàn)為孔徑約 100μm
之微細(xì)孔，為求符合微細(xì)加工的品質(zhì)與精度，所以并不適合使用此電壓

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