原子力顯微鏡簡(jiǎn)介

什么是原子力顯微鏡？

原子力顯微鏡（英文名：Atomic Force Microscope ），是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。

儀器結(jié)構(gòu)：

在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，可分成三個(gè)部分：力檢測(cè)部分、位置檢測(cè)部分、反饋系統(tǒng)。

工作模式：

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類的。主要有以下3種操作模式：非接觸模式（Nnon - Contact Mode) 、接觸模式（Contact Mode） 和敲擊模式（ Tapping Mode） 。